|
|
|
|
| getLight-DHc - Компактный источник света с дейтериевой и галогенной лампами | |
|
|
 Информация запроса
В источнике излучения getLight-DHc использованы дейтериевая лампа с радиочастотным возбуждением и галогенная лампа накаливания, дающие непрерывный спектр от ультрафиолетовой до близкой инфракрасной области (200÷1700 нм). При этом излучение от галогенной лампы проходит через дейтериевую, что устраняет необходимость примененния подвижного зеркала для переключения лучистых потоков при преходе от ультрафиолеъовой к видимой области спектра. Выходная мощность getLight-DHc относительно мала, поэтому рекомендуется применять источник для измерения коэффициента пропускания с использованием оптических кабелей с волокнами большого диаметра. Кабели присоединяются к источнику с помощью разъема SMA-905. getLight-DHc снабжен оптическим затвором, управляемым электрическим переключателем, а также тумблером для включения источника. Управление затвором может осуществляться и от внешнего устройства, например, от спектрометра, что позволяет автоматизацию измерения темнового сигнала. Для этого необходим дополнительный электрический разъем SUB-D-15.
Технические данные
| Тип спектрометра | Дейтериевая лампа | Галогенная лампа накаливания |
| Спектральный диапазон | 200 ÷ 400 нм | 400 ÷ 1700 нм |
| Стабильность | 0,1 % | 0,1 % |
| Время выхода на стабильный режим | 8 мин | 1 мин |
| Мощность излучения, вводимого в волокно с сердцевиной 600 мкм | 0,2 мкВт | 7 мкВт |
| Время наработки лампы | 1000 ч | 2000 ч |
| Температурный диапазон | 5°C ÷ 35°C |
| Источник питания | 12 В=/600 мА |
| Габариты | 175 x 110 x 44 мм |
Спектральная плотность излучения источника getLight-DHc:
Типичное применение источника:
Типичной областью применения нашего источника getLight-DHc является выполнение измерений коэффициентов пропускания в ультрафиолетовом, видимом и близком инфракрасном спектральных диапазонах (UV-Vis-NIR), как и измерения коэффициентов зеркального отражения, характерных при исследовании тонких слоев.
Работа прибора для анализа тонкослойных систем (покрытий) Thin Film основана на измерении спектрального коэффициента отражения, который содержит информацию об их оптических толщинах. Последние могут быть вычислены с применением хорошо известных формул оптики тонких слоев. Если известны показатели преломления материалов, образующих слои, по оптическим толщинам слоев могут быть вычислены их геометрические (физические) толщины. Наименьшая ошибка измерений достигается при анализе однослойных систем, причем слои могут быть и поглощающими (комплексный показатель преломления ñ = n + i k). Предлагаемая нами программа getSoft-Thin Film содержит обширную базу данных о значениях n и k наиболее используемых в производстве тонкослойных покрытий материалов. Вы можете проводить измерения толщин слоев в диапазоне от 10 нм до 50 мкм с разрешением 1 нм. Такие измерения часто необходимы в производстве интегральных схем для контроля процессов формирования различных слоев и плазменного травления. Другой областью, требуещей подобных измерений является изготовление оптических покрытий.
Установка для измерения толщин тонких слоев:
|
|
|
|
последнее изменение 08/16/2007
Copyright (c) getAMO 2024
|
|
|
|